FPI で測定した単一周波数半導体レーザーのスペクトラム
FPI 100
ファブリペロー干渉計
- 半導体レーザの縦モード分析に最適
- 各種ミラーセットとディテクターの選択可能波長： 330 .. 1700 nm
- FSR:1 GHz
- フィネス > 200 (典型値 > 400)
FPI 100はコンフォーカル・ファブリペロー型干渉計とディテクタユニットを丈夫でコンパクトなアルミ製ハウジングに一体化したスキャニング型干渉計です。CW光のスペクトル解析手法として確立されている走査型ファブリペロー干渉計と高分解能で簡単操作を可能にするコンフォーカル光学系の利点を一体化したスぺクトルアナライザとしてご使用頂けます。 FPI は波長範囲330~3000 nm において各種のミラーセットとフォトディテクターをご用意しています。標準で反射率(99.8%)の高反射ミラーを採用しフィネス> 400を実現しています。
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Specification
Article # 波長レンジ FSR* フィネス(仕様) フィネス(典型値) 分解能(典型値) 入力開口径 FPI 100-0355-3V0 330 – 380 nm
1 GHz> 200 400 2.5 MHz
7 mmFPI 100-0400-3V0 380 – 430 nm > 200 400 2.5 MHz FPI 100-0500-3V0 430 – 660 nm > 300 400 2.5 MHz FPI 100-0750-3V0 615 – 885 nm > 400 500 2 MHz FPI 100-0980-3V0 825 – 1200 nm > 400 500 2 MHz
FPI 100-1500-3V0 1200 – 1700 nm > 300 500 2 MHz
* FSRの公差は ± 1 %となります
** miniScan 100 および PDA-S が別途必要となります(miniScan 102を用いない場合) - Additional Information
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