社との共同開発
TeraFlash smartの回路図。赤：光信号、青：アナログ信号、黒：デジタル信号。
TeraFlash smart
超高速時間分解テラヘルツプラットフォーム – 1600パルストレース/秒の完全なテラヘルツ波形の超高速測定
- 超高速1600パルストレース/秒
- 特許取得済み・独自開発のECOPSテクノロジを採用
- 時間遅延ステージを使用しない堅牢なデザイン
- 時間分解ダイナミックレンジ: 50 dB in < 1 ms, 80 dB in 1 s
- スペクトルバンド幅: 3 THz in < 1 ms, 4 THz in 1 s
トプティカ社のTeraFlash smartはECOPS ("electronically controlled optical sampling")という独自開発の技術を採用しています。 本システムでは2台の同期されたフェムト秒レーザーを使用し、機械的なディレイを使用しないことにより、 超高速の測定スピードを実現しました。TeraFlash smart の完全なテラヘルツ波形の超高速測定(1600 パルストレース/秒)を用いることで、これまでにないテラヘルツベースの厚み測定が可能となります。 また前記の特徴により、本システムは高速に移動するサンプル測定、例えば ベルトコンベヤ上の製品, 紙製機や押し出しラインなど産業アプリケーションに最適です。 詳細はトプティカ社のアドバンステラヘルツソリューションをご確認ください。
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Specification
Specifications TeraFlash smart スキャンスピード 1600 トレース/秒 (150 ps)
800 トレース/秒 (300 ps)
200 トレース/秒 (700 ps)テラヘルツスペクトルレンジ 0.1 – 4 THz, in < 1 s スペクトルピークダイナミックレンジ typ. 35 dB in < 1 ms
> 60 dB in 1 sec - Additional Information
- Applications
- Downloads
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Literature
- 学術論文: D. Molter et al., Kilohertz pixel-rate multilayer terahertz imaging of subwavelength coatings; Appl. Sciences (2022)
- 技術記事: M. Yahyapour et al., Fastest thickness measurements with a terahertz time-domain system based on electronically controlled optical sampling; Appl. Sciences (2019)
- 査読論文: Naftaly, M., et al., Industrial applications of terahertz sensing: State of play, Sensors (2019)
- 学術論文: Damyanov, D., et al., High resolution lensless terahertz imaging and ranging, IEEE Access (2019)
- 学会資料: Yahyapour et al., Extremely fast thickness measurements with an ECOPS-based TD-THz system, IRMMW-THz 2018
- 学会資料: Yahyapour et al., Non-Contact Thickness Measurements with Terahertz Pulses, WCNDT 2016
- 学術論文: Dietz et al., All fiber-coupled THz-TDS system with kHz measurement rate based on electronically controlled optical sampling; Opt. Lett. (2014)
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