プラスチック検査用パルステラヘルツシステム

• テラヘルツ波はプラスチック材料の多くを透過します。
• パルステラヘルツシステムでは、非接触の厚み測定が可能です。
• テラヘルツイメージングで隠れた物を検出
• 推奨システム: TeraFlash pro, Imaging Extension, TeraFlash smart, TeraScan

プラスチック検査のアプリケーション

非接触分析や非破壊検査で実績のあるテラヘルツ波は多くのポリマー材料を、ある程度透過します。パルス発振のテラヘルツ波は、TOF法(Time-of-Flight)により多層構造のサンプルであっても、物体の厚さに関する情報を提供します。各層の界面で入射パルスの一部が反射され、それぞれの層からのパルス「エコー」が到着するまでの経過時間が各層の光学的厚さに直接比例します。

テラヘルツ波のプラスチック検査への応用は、厚さ測定だけに留まりません。テラヘルツ波ビームを用いて試料をスキャンすると、一次元のプロファイルを三次元で確認でき、表面下のクラック、ボイド、層間剥離をピンポイントで検出することができます。分光技術では、化合物の吸収係数や屈折率を測定し、その組成や内部構造を明らかにします。プラスチック産業における品質管理とプロセス管理のためのテラヘルツ技術の可能性は、ほぼ無限にあると思われます。