ハイフィネス線幅アナライザー
狭線幅光源の周波数ノイズ、及び線形の測定、解析、コントロール用多目的機器
- 周波数偏差の時間トレース測定
- 周波数ノイズ密集スペクトラム
- 強度ノイズスペクトラム
- レーザー線形スペクトラム
ハイフィネスの線幅アナライザー (LWAs)は、レーザーの周波数及び強度ノイズの測定、解析及びコントロールを目的とし、多用途に使用できる堅固でコンパクトな機器です。精密なレーザーの特性をリアルタイムで測定するための理想的な装置です。
最高感度は、干渉計の動作原理とハイエンドな光学的及び電気的なコンポーネントとの結びつきにより達成されます。周波数偏向の経時変化の計算をベースとし、周波数ノイズ密集スペクトラム、350Hzに至るまでの本質的(Lorentzian)な線幅、及び有効(光学)線幅の評価による光学的な線形、及び相対強度ノイズ(RIN)の測定を可能にします。更なる解析によって、多くの追加情報を入手可能です。LWAの原理となる公正な測定は、光学的な遅延ライン技術より優れ、理由としては、非自明な評価に依存する後者の方法は、技術固有の情報不足に起因するためです。LWAは、PIDコントロールを利用した、レーザーの線幅低減も可能にします。
LWA-1kプロダクトシリーズは、非常に狭い線幅に至るまでの測定を可能にする装置です。LWA-100kプロダクトシリーズは、非常に広い波長レンジでの正確な線幅測定が可能です。
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Specification
LWA-1k Series
• 周波数ノイズ密度: 50 Hz – 10 MHz
• 光学 & ローレンツ線幅: 350 Hz – 20 MHz
• 線幅狭窄化、PIDコントロール
• 周波数分別がベース（干渉計）波長レンジ[nm] ノイズフロア[Hz/√Hz] 周波数ノイズバンド幅 固有線幅 レンジ 実効線幅 レンジ LWA-1k 780 760 - 1064 25 - 500 10 Hz - 10 MHz < 8 kHz < 10 kHz - 20 MHz LWA-1k 1550 1530 - 1565 5 - 100 10 Hz - 10 MHz < 350 Hz < 1 kHz - 20 MHz 
LWA-100k Series
• 周波数ノイズ密度: 25 Hz – 10 MHz
• 光学 & ローレンツ線幅: 2 kHz – 20 MHz
• 線幅狭窄化、PIDコントロール
• 周波数分別がベース（干渉計）波長レンジ [nm] ノイズフロア [Hz/√Hz] 周波数ノイズバンド幅 固有線幅 レンジ 実効線幅レンジ LWA-100k NIR 1064 - 1625 25 - 1000 25 Hz - 10 MHz < 2 kHz < 10 kHz - 20 MHz LWA-100k VIS -
Applications
- レーザー製造
- レーザー特性評価
- 光通信
- 線幅狭窄
- 量子技術
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