高速スクリーニングシステム

テラヘルツ強度を前代未聞のスピードで測定

品質管理やプロセスモニタリングなどの特定のアプリケーションでは、スペクトル情報を必要としませんが、「エクストリーム」な速度でのテラヘルツ強度測定が必要となります。フェムト秒ファイバーレーザー、パルステラヘルツエミッタ、広帯域ショットキーレシーバを組み合わせることで、100 MHzの高繰り返しレートでも個々のテラヘルツパルスを検出できるセットアップが可能になります。この膨大なデータストリームを処理するために、データ処理ユニットがパルスをRMS値に変換し、最大500kHzのサンプリングレートでテラヘルツ強度の測定値を生成します。

このシステムは、世界最速のシングルピクセル・テラヘルツカメラとも言えます。テラヘルツの透過、または反射イメージを生成するために、高速ビームステアリング光学系を用いてシステム構築したり、別のアプリケーションでは、高速コンベアベルト上や製紙機械の一部など、サンプル自体が移動する場合があります。この場合、エミッタとレシーバは固定され、データストリームは100m/sを超えるサンプル速度でも高い空間分解能を持つラインスキャンを実現します。

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