産業用厚さ測定ソリューション

08-03-2021 I

ポリマー層の厚さを高速で測定する産業用ソリューション：フラウンホーファー技術・経済数学研究所（ITWM）とTOPTICA Photonicsは、材料の非破壊検査でインラインコーティングの厚さを測定する産業用ソリューションを共同開発しました。 
"厚さ測定の速度で新記録を達成したこのシステムは、毎秒1,600回の測定が可能なため、生産ライン上を高速で移動するサンプルに適しています。

この超高周波数機器は、工業生産において信頼性と効率性の高い品質管理を実現します。レーザー開発における近年の進歩とテラヘルツ機器における製造方式の改善により、新世代の強力なテラヘルツ光源と非常に繊細な検出装置が市場化されました。

ITWMはトプティカとともに、測定速度で新基準を確立する新しいテラヘルツシステムを開発しました。ITWMのリアルタイムデータ処理ソフトウェアを採用したテラヘルツプラットフォーム「TeraFlash smart」は、優れた産業工程管理装置となります。このシステムは最大1,600パルストレース/秒を記録し、生産ライン上を高速で移動する薄いポリマーサンプルのインライン層の厚さを従来にない速度で測定します。

共同開発のテラヘルツ検査システムは、単層サンプル複層サンプルの両方の厚さ測定が可能です。また、高い汎用性でコーティングの多様な厚みや形状に対応します。アプリケーションに応じて調整すれば、10マイクロメートル程度の極めて薄いコーティングまで測定可能です。

ITWM「材料の特性評価と試験」部門の副責任者であるJoachim Jonuscheit博士は、次のようにこのコンセプトを説明してています。「高速テラヘルツ技術とリアルタイムデータ評価の組み合わせは非常に優れており、これまで不可能だった新しいインライン用途を数多く可能にします。特にプラスチック業界にとっては多大なメリットがあるでしょう。」"

詳細はこちら: www.itwm.fraunhofer.de    www.toptica.com

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